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激光锡焊中不同的温度控制结果会怎样?

激光焊锡的温度控制精度直接决定焊锡质量、焊点可靠性及基材安全性,不同温度控制效果(过低、适宜、过高)会产生截然不同的焊接结果,具体差异可从焊点外观、力学性能、电气性能及基材影响四个维度展开分析,以下是详细对比:

一、温度控制过低(未达到焊锡需求温度)

当激光输出能量不足、加热时间过短,或温控系统误判导致实际温度低于焊锡熔点 + 活化温度(通常需高于熔点 20-50℃以确保助焊剂活性)时,会出现以下问题:

 

影响维度 具体结果
焊点外观 1. 焊锡未完全熔融,呈 “颗粒状” 或 “豆腐渣状”,无光泽;2. 焊锡无法充分浸润焊盘 / 引脚,出现 “虚焊”(焊点边缘与基材分离,有明显缝隙);3. 助焊剂未完全挥发,残留白色 / 褐色残渣,易吸附灰尘。
力学性能 1. 焊点结合力极差,轻微震动或拉扯即断裂;2. 焊锡与基材间无有效金属间化合物(IMC)形成,属于 “机械贴合” 而非 “冶金结合”。
电气性能 1. 虚焊导致焊点接触电阻显著升高,通电时发热严重,可能引发电路电压降;2. 长期使用中电阻随震动增大,易出现 “时通时断” 的故障,尤其影响精密电子(如传感器、芯片引脚)。
基材影响 基材无损伤,但焊点失效会直接导致整个器件功能故障,需返工重焊(返工可能增加基材二次受热风险)。

二、温度控制适宜(匹配焊锡与基材需求)

适宜温度需满足两个核心条件:① 高于焊锡熔点(如 Sn63Pb37 熔点 183℃,无铅焊锡 Sn96.5Ag3.0Cu 熔点 217℃);② 低于基材 / 元器件耐温上限(如 PCB 板通常≤260℃,芯片引脚≤240℃),此时焊接结果最优:

 

影响维度 具体结果
焊点外观 1. 焊锡完全熔融,表面光滑有金属光泽,呈 “半月形”(理想焊点形状,边缘与焊盘无缝贴合);2. 助焊剂充分挥发,仅残留极薄透明膜,无明显残渣;3. 焊锡量适中,无 “少锡”(暴露引脚)或 “多锡”(形成锡球 / 锡桥)。
力学性能 1. 焊锡与基材(如铜焊盘)形成稳定的金属间化合物(如 Cu?Sn?),焊点剪切强度、拉伸强度达标(通常满足 IPC 标准);2. 焊点抗疲劳性强,长期冷热循环(-40℃~125℃)后不易开裂。
电气性能 1. 接触电阻极低(通常≤5mΩ),通电时无额外发热,确保电路信号传输稳定;2. 焊点无空隙,绝缘性能达标,避免短路风险。
基材影响 基材(PCB 板、元器件外壳)无过热变色、变形,焊盘无脱落,保障器件整体可靠性。

叁、温度控制过高(远超焊锡与基材耐受范围)

当激光能量过高、加热时间过长,或温控系统失控导致温度远超需求(如超过无铅焊锡熔点 50℃以上)时,会引发一系列不可逆问题:

 

影响维度 具体结果
焊点外观 1. 焊锡过度熔融,出现 “流锡”(焊锡溢出焊盘,污染相邻引脚形成 “锡桥”,导致短路);2. 焊锡表面氧化严重,呈 “暗灰色” 或 “黑色”,无光泽;3. 助焊剂碳化(黑色残渣),甚至燃烧产生烟雾,污染焊点。
力学性能 1. 金属间化合物(IMC)过度生长(如 Cu?Sn?增厚至 10μm 以上),变脆易裂,焊点抗冲击、抗疲劳能力大幅下降;2. 焊盘铜层被过度溶解(“铜溶蚀”),导致焊点与 PCB 板结合力丧失,严重时焊盘脱落。
电气性能 1. 焊锡氧化或碳化残渣导致接触电阻升高,甚至形成 “开路”;2. 锡桥直接引发相邻引脚短路,烧毁芯片或电路;3. 基材(如 PCB 板基材)受热老化,绝缘性能下降,可能出现漏电。
基材影响 1. PCB 板:基材(环氧树脂)变色(发黄→发黑)、变形、分层(基材与铜箔分离),严重时碳化燃烧;2. 元器件:芯片封装开裂、引脚氧化,甚至内部芯片因过热烧毁(如 IC 芯片耐温上限通常≤260℃,过高温度会破坏半导体结构);3. 敏感元件(如电容、电阻):电解液泄漏、电阻膜烧毁,直接失效。

四、关键补充:温度控制的核心影响因素

除了 “温度高低”,激光焊锡的温度控制还需关注 **“升温速率” 和 “保温时间”**,这两个参数同样影响结果:

升温速率过快:焊锡局部瞬间熔融,而助焊剂未及时活化,易导致虚焊;基材受热不均,可能出现微裂纹。

升温速率过慢:加热时间过长,即使峰值温度适宜,也可能导致助焊剂提前挥发,焊锡氧化,或基材长期受热老化。

保温时间过短:焊锡未完全浸润,易虚焊;保温时间过长:等同于 “温度过高”,增加氧化和基材损伤风险。

综上,激光焊锡的温度控制需 “精准匹配” 焊锡类型(有铅 / 无铅)、基材耐温性及焊点尺寸,通常需通过前期测试(如温度曲线调试)确定最优参数,避免因温度过低导致焊点失效,或温度过高造成不可逆损伤。


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